Civale L., Tajima T., Ito H., Sakai H., Okada T., Umemori K., Grumstrup T.P., Kelly D., Mealy M.A., Poudel A., Salazar H.R., Schulze R.K., Pizzol P., Kako E.
Ключевые слова: MgB2, thin films, coatings, cavity, design, fabrication
Awaji S., Izumi T., Kato T., Maiorov B., Miura M., Yoshida R., Nakaoka K., Kato Y., Harada T., Sekiya N., Maeda A., Sakuma K., Okada T., Nabeshima F., Tsuchiya G., Kurokawa H., Civale L.-8
Miller D.J., Rupich M., Welp U., Fleshler S., Civale L., Ghigo G., Laviano F., Kwok W.K., Kayani A., Leroux M., Eley S., Kihlstrom K.J., Niraula P.
Puig T., Palau A., Obradors X., Civale L., Maiorov B., Bartolome E., Pompeo N., Silva E., Rouco V., Valles F., Balakirev F.F.
Miller D.J., Rupich M.W., Welp U., Civale L., Kwok W., Kayani A., Leroux M., Eley S., Niraula P.M., Sheng H.
Ключевые слова: HTS, YGdBCO, nanodoping, nanoscaled effects, substrate metallic, IBAD process, MOD process, irreversibility fields, microstructure, irreversibility line, angular dependence, magnetic field dependence, pulsed operation, pinning, vortex structures, upper critical fields, experimental results
Miller D.J., Rupich M.W., Welp U., Fleshler S., Sathyamurthy S., Civale L., Li Q., Solovyov V., Kwok W., Ozaki T., Kayani A., Koshelev A.E., Leroux M., Eley S., Kihlstrom K.
Miller D.J., Rupich M.W., Welp U., Fleshler S., Sathyamurthy S., Civale L., Kayani A., Leroux M., Eley S., Niraula P.M., Kwok W.-K., Kihlstrom K.J., Holleis S., Sheng H.P.
Miller D.J., Rupich M.W., Li X., Malozemoff A.P., Welp U., Fleshler S., Sathyamurthy S., Civale L., Kwok W.K., Jia Y., Kayani A., Leroux M., Wen J.G., Ayala-Valenzuela O.
Marken K., Izumi T., Shiohara Y., Civale L., Maiorov B., Willis J.O., Baily S.A., Miura1 M., Haberkorn N.
Qiao Y., Xie Y., Civale L., Maiorov B., Zhang Y., Zhang Y., Selvamanickam V., Carota G., Braccini V., Larbalestier D., Chen Y., Xu A., Bhattacharya R., Rar A., Jaroszynski J., Majkic G., Dackow J., Guevara A., Kesgin I., Shi T., Yao Y.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, MOD process, critical caracteristics, critical current, angular dependence, doping effect, transport currents, homogeneity, long conductors, Jc/B curves, temperature dependence, coated conductors multifilamentary, electrodeposition, protection layer Ag, current-voltage characteristics, new
Ключевые слова: patents, HTS, fabrication, buffer layers, microstructure, critical caracteristics, Jc/B curves, critical current density, angular dependence, YBCO
Ключевые слова: funding, plans, HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, MOCVD process, fabrication, planarization, control systems, presentation
Jia Q.X., DePaula R.F., Stan L., Holesinger T.G., Xiong X., Civale L., Maiorov B., Selvamanickam V., Chen Y.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.